原子力顯微鏡AFM工作原理

分析原理：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運動。從而可以獲得樣品表面形貌的信息

譜圖的表示方法：微懸臂對應于掃描各點的位置變化

提供的信息：樣品表面形貌的信息